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涂層測厚儀MP20E-S
涂層測厚儀MP20E-S

產品型號: MP30E-S

所屬分類:涂層測厚儀

產品時間:2024-07-23

簡要描述:涂層測厚儀MP20E-S 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性
u 測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用
u FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

詳情介紹

涂層測厚儀MP20E-S的詳細介紹

u      創(chuàng)新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性





u      測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用





u      FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯



MINITEST 700優(yōu)點一覽:





?         SIDSP使測量不受干擾,測值更加精確

?         可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內置換為外置)

?         FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤

?         溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤

?         生產過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線

?         大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數

?         讀數和統計值能單獨調出

?         超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉

?         菜單指引操作,25種語言可選

?         帶IrDA接口,紅外線傳輸數據到打印機和PC

可下載更新軟件

標準配置:


涂層測厚儀MP20E-S



?         帶塑料手提箱

?        MINITEST 720(內置探頭)

?         或MINITEST 730(外置探頭)

?         或MINITEST740主機(不含探頭,有各種探頭可選)

?         校準套裝含校準片和零板

?         操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語

?        2節(jié)AA電池




推薦配件:

F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架

 

涂層測厚儀|德國EPK MiniTest 730 F-15|


型號

特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內置探頭

外置探頭

內置外置可換

數據記憶組數

10

10

100

存儲數據量

zui多10,000個

zui多10,000個

zui多100,000個

統計值

讀值個數,zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數,組統計值(標準設置/自由配置)

符合標準和規(guī)范

ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準

校準模式

出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,

使用者可調節(jié)補償值

極限值監(jiān)控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

um,mm,cm;mils,inch,thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數據接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標準

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840

ASTM B244,B499,D7091,E376  AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內置)230g(外置)



SIDSP探頭



探頭

特性

F1.5,N0.7,FN1.5

F2

F5,N2.5,FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

粗糙表面

標準探頭,使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應

電渦流

磁感應

磁感應

電渦流

磁感應

信號處理

探頭內部32位信號處理(SIDSP)

精確度

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

zui小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

zui小曲率半徑(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

zui小曲率半徑(凹,內置探頭)

30mm

30mm

30mm

zui小測量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

zui小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

測量速度

連續(xù)模式每秒20個讀數,單值模式下每分鐘70個讀數




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