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簡易四探針測試儀|SZT-4|
簡易四探針測試儀|SZT-4|

產(chǎn)品型號: SZT-4-

所屬分類:測試儀

產(chǎn)品時間:2024-07-31

簡要描述:簡易四探針測試儀|SZT-4|是二量程的電阻測量儀器,配以手持式測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。(客戶根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程,Z小可以測量0.0001ΩZ大可以測量100000Ω,根據(jù)電流檔定精度)通過對恒流源的調(diào)整,可以對某些測量結(jié)果進行修整,例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù),

詳情介紹


簡易四探針測試儀|SZT-4|,是二量程的電阻測量儀器,配以手持式測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。(客戶根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程,zui小可以測量0.0001Ωzui大可以測量100000Ω,根據(jù)電流檔定精度)通過對恒流源的調(diào)整,可以對某些測量結(jié)果進行修整,例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù),對硅材料薄層擴散和導(dǎo)電薄膜“方塊電阻“的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。SZT4數(shù)字式四探針測試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對重?zé)捇亓系姆诌x。

     本儀器工作環(huán)境條件為:

       相對濕度:60%80%

       溫  度:18℃―25

         

     工作室內(nèi)應(yīng)無強電場干擾,不與高頻設(shè)備共用電源。

二,技術(shù)參數(shù)

1,測量范圍

            0.01-200Ω-cm

方塊電阻       0.01-200Ω-

          0.01-200.0

2,數(shù)字電壓表

     (1)     :       200mV單一量程

     (2)    :      讀數(shù)±0.2%±3

(3)輸入電阻 :      >10MΩ

3,

     (1)電流輸出               0~10mA連續(xù)可調(diào)

     (2)                 1mA, 10mA

     (3)                 ±0.2%±3,

4,手持式四探針測試頭

(1) ::      1mm

(2)探針機械游移率:      ±1.0%

(3) :      碳化鎢,φ0.

(4)壓力: zui大 2Kg

5,電源:

     220V±10%50Hz

功耗:  5W

6,外形尺寸;

7,使用方法:取出儀器平放於桌上,將三芯電源線接入儀器的電源插座中,并接通交流電壓(220V),再將測試探頭的插頭插入相應(yīng)的插座中,按下電源開關(guān)使儀器得電,儀器上的數(shù)字電壓表就有讀數(shù)顯示,如果面板上的二個功能開關(guān)全部處於彈出狀態(tài),則二個開關(guān)旁邊的“調(diào)整"指示燈和:“1mA"指示燈將被點亮,此時旋轉(zhuǎn)電流調(diào)節(jié)旋鈕電壓表讀數(shù)就會發(fā)生有規(guī)則的變化,這說明儀器已經(jīng)可以正常工作。

下一步就可以跟據(jù)測試的須要對電流進行調(diào)整。電流調(diào)整應(yīng)該將電流開關(guān)放在10mA的位置上。

8,電流調(diào)整

1)半導(dǎo)體(硅)材料的電阻率測試:

10mA電流量程上將電流調(diào)到6.28mA,相當(dāng)于在10mA電流情況下測得的結(jié)果,乘以探頭修正系數(shù)0.628。

由於恒流源的調(diào)整,1mA10mA是同步的,在`10mA調(diào)準(zhǔn)以后1mA量程同樣包含有這個修正系數(shù)。

2)半導(dǎo)體(硅)材料薄層擴散,玻璃或塑料的薄導(dǎo)電鍍復(fù)層的方塊電阻測試:

10mA電流量程上將電流調(diào)至4.53mA, 測得結(jié)果乘以10,就是方塊電阻。

     3)電阻測試:

電阻測試不能使用探頭,必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭

“電阻測試線"(選配件)。電流調(diào)到10mA,電壓表的顯示值

就是電阻值,不用修正。

(4)在做好測試前的準(zhǔn)備工作之后,取下探頭保護蓋,將探頭壓在被測工件上,使四根探針和工件保持良好接觸,

使用時的注意事項;

(1)保護蓋取下后一定要保存好,用畢仍要蓋好,以防探針損壞。

(2)儀器操作時,應(yīng)備戴乾燥手套,操作場地,桌椅均應(yīng)保持乾燥。

(3)在被測材料外形尺寸允許的情況下,建議使用臺式測試架(選購件),可使測試精度和穩(wěn)定性都會有所提高。

(4)對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時,還應(yīng)對測試結(jié)果進行厚度修正,修正參數(shù)見參數(shù)表,附錄`1A和附錄1B

(5)附錄2,是對片狀工件外形(園形,矩形)和測量位置的修正參數(shù)表。

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